A 3D scanner 6 µm szkennelési pontossággal, 1233 pt/mm2 pontsűrűséggel és 8,9 Mpix kamerafelbontással rendelkezik, lehetővé téve a részletes és pontos 3D szkennelést és modellezést.
JEOL JXA-8600 Superprobe pásztázó elektronmikroszkóp: képalkotás, EDS és WDS mikroszondák, SE és BSE képek, pont- és területmérés, elemtérképezés.
Leitz Panphot mikroszkóp és fűthető tárgyasztal kőzettani zárványvizsgálatokhoz. Kétoldalú polírozású ásványtani és kőzettani preparátumok homogenizációs hőmérsékletét optikai módszerrel meghatározza a fűthető tárgyasztalon.
Nagy felbontású, duál röntgencsöves technológiája metrológiát, tomográfiát és 3D leképezést tesz lehetővé Ø 300 mm x 500 mm-es mintamérettel.
Az optikai mikroszkóp egy multifunkcionális eszköz, amely ideális a részletes vizsgálatokhoz és széleskörű alkalmazásokhoz a kutatási területeken.
Helios G4 PFIB CXe DualBeam a legkorszerűbb technológiával segíti a mikro- és nanoskálán végzett kutatásokat, valamint lehetőséget nyújt a komplex anyagvizsgálatokra és mintaelőkészítésekre.
Plazma Fókuszált Ionsugaras Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat. LA-PFIB technológia, 3D-s mikro- és nanoméretű anyagmegmunkálás, nagy térfogatú keresztmetszet és mikromegmunkálás, TEM-es lamella preparálás.
SEM mintaelőkészítés ionsugaras módszerrel: SEM Prep2 SC-2100 (Technoorg Linda). Felületi minőségű minták készítése EBSD detektorral ellátott pásztázó elektron mikroszkópos vizsgálatokhoz.
Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat (EDAX EDS, Apollo X SDD detektor) Zeiss Evo MA10-gyel. Kémiai összetétel, mikroszerkezet leírása, elemzések, tisztaság vizsgálatok, töretfelületek kiértékelése, korrelatív mikroszkópia, EBSD felvételek orientációs fázis térképekhez.
Hőkamerás vizsgálatok FLIR SC 660 típusú hőkamerával. Nagyfelbontású, álló- vagy mozgó hőképek készítése, például nagyhőmérsékletű berendezéseknél hőtechnikai elemzésekhez, hibafeltárásokhoz, épületenergetikai felmérésekhez.
Gyorskamerás felvételek készítése FastCAM Mini UX100 kamerával. Felbontás: 1280 x 1024 pixel, képsebesség: 4000 fps, lehetővé téve a magas sebességű események részletes rögzítését és elemzését.
Mikroszkópos Vizsgálatok: Laboratóriumunk a Zeiss Discovery v12 mikroszkópot alkalmazza 100x nagyítással, részletes képek és felületi távolságmérések céljából.
- 1
- 2