Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat (összetétel elemzéssel)
Berendezés: Zeiss Evo MA10 Scanning Electron Microscope (EDAX EDS, Apollo X SDD detektor)
- Technikai jellemzők:
- Termikus W katód, max. gyorsító feszültség 30kV.
- Alacsony vákuumú vizsgálati lehetőség.
- ET SE-detektor.
- 4 szegmenses BSE-detektor.
- Scintillációs EBSD detektor.
- Apollo X SDD EDS detektor, Re: 125.51 eV/ch Mn-re.
- Alkalmazási lehetőségek:
- Alapanyagok, felkésztermékek, gyártmányok kémiai összetételének meghatározása, mikroszerkezeti leírása.
- Kvalitatív és kvantitatív elemzések végzése.
- Tisztaságvizsgálatok kiegészítő elemzése.
- Töretfelületek kiértékelése, a károsodás okának felderítése.
- Korrelatív mikroszkópiai mérés végzése.
- EBSD felvételek segítségével orientációs fázistérkép készítése.
A Zeiss Evo MA10 Pásztázó Elektron Mikroszkóp korszerű technológiát kínál az anyagok részletes vizsgálatához, az összetétel meghatározásától kezdve a mikroszerkezeti elemzésekig. A rendkívül érzékeny detektorok és a széleskörű alkalmazási lehetőségek révén az eszköz ideális választás a korszerű anyagtudományi kutatásokhoz és ipari alkalmazásokhoz.