Az MIPAR 2D analízis szoftver automatikus képdetektálást biztosít a "Deep Learning" toolbox-szal. Képes az anyagok fázisainak elválasztására és mérésére, beleértve szemcséket, szálakat és pórusokat is.

JEOL JXA-8600 Superprobe pásztázó elektronmikroszkóp: képalkotás, EDS és WDS mikroszondák, SE és BSE képek, pont- és területmérés, elemtérképezés.

Nagy felbontású, duál röntgencsöves technológiája metrológiát, tomográfiát és 3D leképezést tesz lehetővé Ø 300 mm x 500 mm-es mintamérettel.

Az optikai mikroszkóp egy multifunkcionális eszköz, amely ideális a részletes vizsgálatokhoz és széleskörű alkalmazásokhoz a kutatási területeken.

Helios G4 PFIB CXe DualBeam a legkorszerűbb technológiával segíti a mikro- és nanoskálán végzett kutatásokat, valamint lehetőséget nyújt a komplex anyagvizsgálatokra és mintaelőkészítésekre.

Hevítőmikroszkópos vizsgálatok SYLAB IF-2000G hevítőmikroszkóppal. Tüzelőanyagok hamujának olvadási és lágyulási tulajdonságainak vizsgálata, valamint kerámiák lágyulási paramétereinek meghatározása akár 1550 °C-ig.

Mikroszkópos Vizsgálatok: Laboratóriumunk a Zeiss Discovery v12 mikroszkópot alkalmazza 100x nagyítással, részletes képek és felületi távolságmérések céljából.

Szolgáltatásunk a habképződés során fellépő fizikai paraméterek precíz mérését teszi lehetővé.