A MOM Derivatograph C/PC segítségével porított minták termikus reakcióit vizsgáljuk (DTA, TG, DTG). A fűtés lineáris/izoterm/kvázi-izoterm módban történik 20-1200 °C között, digitális adatrögzítéssel.
JEOL JXA-8600 Superprobe pásztázó elektronmikroszkóp: képalkotás, EDS és WDS mikroszondák, SE és BSE képek, pont- és területmérés, elemtérképezés.
Leitz Panphot mikroszkóp és fűthető tárgyasztal kőzettani zárványvizsgálatokhoz. Kétoldalú polírozású ásványtani és kőzettani preparátumok homogenizációs hőmérsékletét optikai módszerrel meghatározza a fűthető tárgyasztalon.
GL TEST SYSTEMS kőzetvizsgáló rendszere P és S hullámok sebességét, csillapodási tényezőket méri. Az inverz modellezés kőzetfizikai paramétereket határoz meg.
Sunplant vízszintes vákuumozható csőkemence és peremszögmérő berendezés, KSV szoftverrel. Alkalmas folyadékok nedvesítési jellemzőinek vizsgálatára és fémolvadékok olvadási folyamatának tanulmányozására.
Nagy felbontású, duál röntgencsöves technológiája metrológiát, tomográfiát és 3D leképezést tesz lehetővé Ø 300 mm x 500 mm-es mintamérettel.
Mintaelőkészítéshez használt eszközök: Metasinex csiszoló, Opal 400 és Struers Citopress-5 meleg beágyazók, Saphír 330 csiszoló, Struers Tegramin -20 Automata polírozó, Struers LectroPol-5 Elektrolitos marató.
Az optikai mikroszkóp egy multifunkcionális eszköz, amely ideális a részletes vizsgálatokhoz és széleskörű alkalmazásokhoz a kutatási területeken.
Helios G4 PFIB CXe DualBeam a legkorszerűbb technológiával segíti a mikro- és nanoskálán végzett kutatásokat, valamint lehetőséget nyújt a komplex anyagvizsgálatokra és mintaelőkészítésekre.
Plazma Fókuszált Ionsugaras Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat. LA-PFIB technológia, 3D-s mikro- és nanoméretű anyagmegmunkálás, nagy térfogatú keresztmetszet és mikromegmunkálás, TEM-es lamella preparálás.
SEM mintaelőkészítés ionsugaras módszerrel: SEM Prep2 SC-2100 (Technoorg Linda). Felületi minőségű minták készítése EBSD detektorral ellátott pásztázó elektron mikroszkópos vizsgálatokhoz.
Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat (EDAX EDS, Apollo X SDD detektor) Zeiss Evo MA10-gyel. Kémiai összetétel, mikroszerkezet leírása, elemzések, tisztaság vizsgálatok, töretfelületek kiértékelése, korrelatív mikroszkópia, EBSD felvételek orientációs fázis térképekhez.