Plazma Fókuszált Ionsugaras Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat. LA-PFIB technológia, 3D-s mikro- és nanoméretű anyagmegmunkálás, nagy térfogatú keresztmetszet és mikromegmunkálás, TEM-es lamella preparálás.
Pásztázó Elektron Mikroszkópos vizsgálat (EDAX EDS, Apollo X SDD detektor) Zeiss Evo MA10-gyel. Kémiai összetétel, mikroszerkezet leírása, elemzések, tisztaság vizsgálatok, töretfelületek kiértékelése, korrelatív mikroszkópia, EBSD felvételek orientációs fázis térképekhez.
Minőségi és mennyiségi fáziselemzés, valamint roncsolásos textúra vizsgálat két Bruker diffraktométerrel. Rugalmas maradó feszültségmérés és kristálytani anizotrópia elemzése Euler bölcsővel.
Szintézisgáz összetétel meghatározása Gasboard-3100P típusú gázelemzővel. Hidrogén, szén-monoxid, szén-dioxid, metán és CnHm komponensek mennyiségének és koncentrációjának meghatározása infravörös spektrofotometria elvén.
Háztartási és ipari méretű tüzelőberendezések füstgázösszetételének folyamatos vizsgálata gáznemű komponensek (CO, CO2, NOx, SO2, O2) tekintetében, valamint porkoncentráció gravimetriás módszerrel szakaszos mintavétellel.
Szén-dioxid, szén-monoxid, hidrogén, oxigén, metán, szén-hidrogének C1-C5, szenhidrogén koncentrációjának meghatározása, valamint kén-hidrogén koncentrációjának vizsgálata.