Egyetemünk szakosodott az elektronikai hulladékok és maradványanyagok feldolgozásának vizsgálatára. Kínálatunkban széleskörű berendezések szerepelnek az aprításhoz, osztályozáshoz és szétválasztáshoz. Tapasztalt szakembereink segítenek a megfelelő feldolgozási módszer kiválasztásában és az optimális berendezések kiválasztásában.
Egyetemünk korszerű berendezésekkel rendelkezik az elsődleges és másodlagos nyersanyagok agglomerálásához. Tapasztalt szakembereink segítenek a megfelelő módszer kiválasztásában és a folyamat optimalizálásában.
A Retsch Camsizer dinamikus képelemzéssel lehetővé teszi szemcseméret és -alak részletes vizsgálatát, ideális megoldást nyújtva szemcsés anyaghalmazok jellemzésére. A berendezés száraz és nedves diszpergálással egyaránt mér.
A HORIBA LA950-v2 lézerdiffrakciós szemcseméret-analizátorunk pontos és megbízható módon meghatározza a porok szemcseméret-eloszlását. A korszerű lézerdiffrakciós technológiának köszönhetően rugalmasan alkalmazható száraz és nedves diszpergálási módokban, valamint speciális diszperziós közegben is.
Az MIPAR 2D analízis szoftver automatikus képdetektálást biztosít a "Deep Learning" toolbox-szal. Képes az anyagok fázisainak elválasztására és mérésére, beleértve szemcséket, szálakat és pórusokat is.
JEOL JXA-8600 Superprobe pásztázó elektronmikroszkóp: képalkotás, EDS és WDS mikroszondák, SE és BSE képek, pont- és területmérés, elemtérképezés.
Nagy felbontású, duál röntgencsöves technológiája metrológiát, tomográfiát és 3D leképezést tesz lehetővé Ø 300 mm x 500 mm-es mintamérettel.
Az optikai mikroszkóp egy multifunkcionális eszköz, amely ideális a részletes vizsgálatokhoz és széleskörű alkalmazásokhoz a kutatási területeken.
Helios G4 PFIB CXe DualBeam a legkorszerűbb technológiával segíti a mikro- és nanoskálán végzett kutatásokat, valamint lehetőséget nyújt a komplex anyagvizsgálatokra és mintaelőkészítésekre.
Hevítőmikroszkópos vizsgálatok SYLAB IF-2000G hevítőmikroszkóppal. Tüzelőanyagok hamujának olvadási és lágyulási tulajdonságainak vizsgálata, valamint kerámiák lágyulási paramétereinek meghatározása akár 1550 °C-ig.
Mikroszkópos Vizsgálatok: Laboratóriumunk a Zeiss Discovery v12 mikroszkópot alkalmazza 100x nagyítással, részletes képek és felületi távolságmérések céljából.
Szolgáltatásunk a habképződés során fellépő fizikai paraméterek precíz mérését teszi lehetővé.